消费级,工业级,车规级芯片的区别和芯片的寿命,不良率标准

2023-06-08 12:25:20
ICMKW
原创
2751
摘要:消费级,工业级,车规级的主要参数对比


 芯片可靠性测试是用来评估芯片在特定条件下的可靠性和寿命。以下是一些常见的芯片可靠性测试方法:

  1. 温度测试:将芯片暴露在不同温度范围内,例如高温和低温,以评估其在极端温度条件下的可靠性。

  2. 湿度测试:将芯片置于高湿度环境下,以评估其对湿度变化和湿度相关问题的抵抗能力。

  3. 振动和冲击测试:通过模拟芯片在运输或使用过程中可能遇到的振动和冲击,检验其对振动和冲击的抗性。

  4. 电热应力测试:通过施加电流和电压来产生热应力,以评估芯片在高功率和高温度条件下的可靠性。

  5. 寿命测试:在正常工作条件下长时间运行芯片,以评估其在实际使用寿命范围内的可靠性。

  6. 加速寿命测试:将芯片暴露在加速条件下,例如高温、高湿度和高电压等,以模拟长期使用情况下的应力,快速评估芯片的可靠性。

  7. 可靠性模型分析:使用统计方法和可靠性模型对芯片的设计和工艺进行分析,以预测其在不同环境和使用条件下的可靠性。

这些测试方法可以帮助芯片制造商评估芯片的可靠性,并确定其适用于不同级别的应用。具体的测试方法和标准可能会因芯片类型和应用领域的不同而有所差异。


等级
Rank

项目要求

Requirement

消费级
Consumption grade

工业级
Industrial grade

车规级
Automotive grade

应用

手机、 PC

工业控制

汽车电子

温度

0~70℃

-40~85℃

-40~150℃

湿度

根据环境

0~100%

振动 / 冲击

较高

寿命

1~3

5-10

15

可靠性

较高

出错率

<3‰

<1

0


消费级:

试验类别
Category
试验项目
Test Contents
试验条件
Condition
试验时间
Time
样品数量
S.S
判定标准
Acc/Re
参考标准
Reference
环境试验 HTS
(高温存储)
Ta=150℃ 1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A103
LTS
(低温存储)
Ta=-55℃ 1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A103
TC
(温度循环)
Ta: -65℃ to 150℃
(Ta: -55℃ to 150℃)
500cycles
(1000cycles)
77Pcs 0/1 JESD22-A104
PCT
(压力蒸煮试验)
Ta=121℃,RH=100%, 1atm 96hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A102
HAST
(高加速应力试验)
Ta=130℃,85%RH

96hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A110
uHAST
(无偏高加速应力试验)
Ta=130℃,85%RH 96hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A110
H3TRB
(高温高湿反偏)
Ta=85℃,85%RH

1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A101
Precondition
(预处理 For SMD only)
Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles
Step2: Bake: 125℃ ,24hrs
Step3: MSL: 30℃/60%RH ,192hrs
Step4: IR: 260℃ ,3cycles
NA 77Pcs 0/1 JESD22A-113




工业级:

试验类别
Category
试验项目
Test Contents
试验条件
Condition
试验时间
Time
样品数量
S.S
判定标准
Acc/Re
参考标准
Reference
寿命试验 HTGB
(高温偏置)
Ta=150℃ 1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A108
HTRB
(高温反向偏压)
Ta=150℃ 1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A108
环境试验 HTS
(高温存储)
Ta=150℃ 1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A103
LTS
(低温存储)
Ta=-55℃ 1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A103
TC
(温度循环)
Ta: -65℃ to 150℃
(Ta: -55℃ to 150℃)
500cycles
(1000cycles)
77Pcs 0/1 JESD22-A104
PCT
(压力蒸煮试验)
Ta=121℃,RH=100%, 1atm 96hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A102
HAST
(高加速应力试验)
Ta=130℃,85%RH

96hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A110
uHAST
(无偏高加速应力试验)
Ta=130℃,85%RH 96hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A110
H3TRB
(高温高湿反偏)
Ta=85℃,85%RH

1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A101
Precondition
(预处理 For SMD only)
Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles
Step2: Bake: 125℃ ,24hrs
Step3: MSL: 30℃/60%RH ,192hrs
Step4: IR: 260℃ ,3cycles
NA 77Pcs 0/1 JESD22A-113



车规级:

试验类别
Category
试验项目
Test Contents
试验条件
Condition
试验时间
Time
样品数量
S.S
判定标准
Acc/Re
参考标准
Reference
寿命试验 HTGB
(高温偏置)
Ta=150℃ 1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A108
HTRB
(高温反向偏压)
Ta=150℃ 1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A108
环境试验 HTS
(高温存储)
Ta=150℃ 1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A103
LTS
(低温存储)
Ta=-55℃ 1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A103
TC
(温度循环)
Ta: -65℃ to 150℃
(Ta: -55℃ to 150℃)
500cycles
(1000cycles)
77Pcs 0/1 JESD22-A104
PCT
(压力蒸煮试验)
Ta=121℃,RH=100%, 1atm 96hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A102
HAST
(高加速应力试验)
Ta=130℃,85%RH

96hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A110
uHAST
(无偏高加速应力试验)
Ta=130℃,85%RH 96hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A110
H3TRB
(高温高湿反偏)
Ta=85℃,85%RH

1000hrs 77Pcs 0/1 JESD22-A101
Precondition
(预处理 For SMD only)
Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles
Step2: Bake: 125℃ ,24hrs
Step3: MSL: 85℃/85%RH ,168hrs
Step4: IR: 260℃ ,3cycles
NA 77Pcs 0/1 JESD22A-113


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