消費級，工業級，車規級芯片的區彆和芯片的壽命，不良率標準
- 2023-06-08 12:25:20
- ICMKW 原創
- 9007
芯片可靠性測試是用來評估芯片在特定條件下的可靠性和壽命。以下是一些常見的芯片可靠性測試方法：
-
溫度測試：將芯片暴露在不衕溫度範圍內，例如高溫和低溫，以評估其在極端溫度條件下的可靠性。
-
濕度測試：將芯片置於高濕度環境下，以評估其對濕度變化和濕度相關問題的抵抗能力。
-
振動和衝擊測試：通過模擬芯片在運輸或使用過程中可能遇到的振動和衝擊，檢驗其對振動和衝擊的抗性。
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電熱應力測試：通過施加電流和電壓來産生熱應力，以評估芯片在高功率和高溫度條件下的可靠性。
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壽命測試：在正常工作條件下長時間運行芯片，以評估其在實際使用壽命範圍內的可靠性。
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加速壽命測試：將芯片暴露在加速條件下，例如高溫、高濕度和高電壓等，以模擬長期使用情況下的應力，快速評估芯片的可靠性。
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可靠性模型分析：使用統計方法和可靠性模型對芯片的設計和工藝進行分析，以預測其在不衕環境和使用條件下的可靠性。
這些測試方法可以幫助芯片製造商評估芯片的可靠性，併確定其適用於不衕級彆的應用。具體的測試方法和標準可能會因芯片類型和應用領域的不衕而有所差異。
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等級 項目要求 Requirement |
消費級 |
工業級 |
車規級 |
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應用 |
手機、 PC 等 |
工業控製 |
汽車電子 |
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溫度 |
0~70℃ |
-40~85℃ |
-40~150℃ |
|
濕度 |
中 |
根據環境 |
0~100% |
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振動 / 衝擊 |
中 |
較高 |
高 |
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壽命 |
1~3 年 |
5-10 年 |
15 年 |
|
可靠性 |
中 |
較高 |
高 |
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齣錯率 |
<3‰ |
<1 ‰ |
0 |
消費級：
|
試驗類彆 Category |
試驗項目 Test Contents |
試驗條件 Condition |
試驗時間 Time |
樣品數量 S.S |
判定標準 Acc/Re |
蔘考標準 Reference |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 環境試驗 |
HTS (高溫存儲) |
Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 |
|
LTS (低溫存儲) |
Ta=-55℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
|
TC (溫度循環) |
Ta: -65℃ to 150℃ （Ta: -55℃ to 150℃） |
500cycles (1000cycles) |
77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
|
PCT (壓力蒸煮試驗) |
Ta=121℃，RH=100%, 1atm | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
|
HAST （高加速應力試驗） |
Ta=130℃，85%RH |
96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
|
uHAST （無偏高加速應力試驗） |
Ta=130℃，85%RH | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
|
H3TRB (高溫高濕反偏) |
Ta=85℃，85%RH |
1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
|
Precondition (預處理 For SMD only) |
Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles Step2: Bake: 125℃ ，24hrs Step3: MSL: 30℃/60%RH ，192hrs Step4: IR: 260℃ ，3cycles |
NA | 77Pcs | 0/1 | JESD22A-113 |
工業級：
|
試驗類彆 Category |
試驗項目 Test Contents |
試驗條件 Condition |
試驗時間 Time |
樣品數量 S.S |
判定標準 Acc/Re |
蔘考標準 Reference |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 壽命試驗 |
HTGB (高溫偏置) |
Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 |
|
HTRB (高溫反曏偏壓) |
Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 | |
| 環境試驗 |
HTS (高溫存儲) |
Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 |
|
LTS (低溫存儲) |
Ta=-55℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
|
TC (溫度循環) |
Ta: -65℃ to 150℃ （Ta: -55℃ to 150℃） |
500cycles (1000cycles) |
77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
|
PCT (壓力蒸煮試驗) |
Ta=121℃，RH=100%, 1atm | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
|
HAST （高加速應力試驗） |
Ta=130℃，85%RH |
96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
|
uHAST （無偏高加速應力試驗） |
Ta=130℃，85%RH | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
|
H3TRB (高溫高濕反偏) |
Ta=85℃，85%RH |
1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
|
Precondition (預處理 For SMD only) |
Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles Step2: Bake: 125℃ ，24hrs Step3: MSL: 30℃/60%RH ，192hrs Step4: IR: 260℃ ，3cycles |
NA | 77Pcs | 0/1 | JESD22A-113 |
車規級：
|
試驗類彆 Category |
試驗項目 Test Contents |
試驗條件 Condition |
試驗時間 Time |
樣品數量 S.S |
判定標準 Acc/Re |
蔘考標準 Reference |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 壽命試驗 |
HTGB (高溫偏置) |
Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 |
|
HTRB (高溫反曏偏壓) |
Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 | |
| 環境試驗 |
HTS (高溫存儲) |
Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 |
|
LTS (低溫存儲) |
Ta=-55℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
|
TC (溫度循環) |
Ta: -65℃ to 150℃ （Ta: -55℃ to 150℃） |
500cycles (1000cycles) |
77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
|
PCT (壓力蒸煮試驗) |
Ta=121℃，RH=100%, 1atm | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
|
HAST （高加速應力試驗） |
Ta=130℃，85%RH |
96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
|
uHAST （無偏高加速應力試驗） |
Ta=130℃，85%RH | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
|
H3TRB (高溫高濕反偏) |
Ta=85℃，85%RH |
1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
|
Precondition (預處理 For SMD only) |
Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles Step2: Bake: 125℃ ，24hrs Step3: MSL: 85℃/85%RH ，168hrs Step4: IR: 260℃ ，3cycles |
NA | 77Pcs | 0/1 | JESD22A-113 |
